在絕緣電阻測(cè)試時(shí)，在某些場(chǎng)合用戶(hù)需自設(shè)定儀表的測(cè)量參數(shù)，以滿(mǎn)足絕緣性能測(cè)試的要求。ETCR3500系列和ETCR3520系列高壓絕緣電阻測(cè)試儀提供了自設(shè)定：輸出電壓、測(cè)試時(shí)間、計(jì)算公式等多種測(cè)量參數(shù)，下面介紹自設(shè)定方法：
1、 輸出電壓和測(cè)試時(shí)間自設(shè)定：
設(shè)定方法：將儀表的檔位旋轉(zhuǎn)到VS檔，進(jìn)入自設(shè)定界面，通過(guò)按下電壓顯示窗口兩側(cè)的
按鈕，選擇修改輸出電壓參數(shù)，設(shè)定范圍：40V～最高量程，步進(jìn)：10V；通過(guò)按下時(shí)間顯示窗口兩側(cè)的
按鈕選擇修改測(cè)試時(shí)間參數(shù)，設(shè)定范圍：10s～60min，步進(jìn)：5s。
2、 吸收比、極化指數(shù)，介質(zhì)放電指數(shù)計(jì)算公式選擇：
選擇方法：在絕緣電阻測(cè)量界面，向左滑動(dòng)2次，進(jìn)入計(jì)算公式選擇界面，點(diǎn)擊公式前的小方框即可選定計(jì)算公式。
極化指數(shù)（PI）測(cè)量
極化指數(shù)是指測(cè)試10分鐘內(nèi)的絕緣電阻與1分鐘內(nèi)的絕緣電阻之間的比值。極化指數(shù)測(cè)試耗時(shí)10分鐘。當(dāng)絕緣測(cè)試時(shí)間為10分鐘或更長(zhǎng)時(shí)，極化測(cè)試將完成并保存。在設(shè)置測(cè)量模式時(shí)，也可自選PI計(jì)算公式。
| 極化指數(shù)（PI） |
＞4 |
4～2 |
2.0～1.0 |
＜1.0 |
| 絕緣狀況 |
很好 |
良好 |
存在問(wèn)題 |
不良 |
吸收比（DAR）測(cè)量
吸收比是指測(cè)試1分鐘內(nèi)的絕緣電阻與15秒內(nèi)的絕緣電阻之間的比值。吸收比測(cè)試需要1分鐘完成。因此，對(duì)于所有小于1分鐘的絕緣測(cè)試，測(cè)量數(shù)據(jù)將被存儲(chǔ)為無(wú)效數(shù)據(jù)。當(dāng)絕緣測(cè)試時(shí)間為1分鐘或更長(zhǎng)時(shí)，吸收比保存在測(cè)試結(jié)果中。在設(shè)置測(cè)量模式時(shí)，也可自選DAR計(jì)算公式。
| 吸收比（DAR） |
＞1.4 |
1.25～1.0 |
＜1.0 |
| 絕緣狀況 |
很好 |
良好 |
不良 |
介質(zhì)放電指數(shù)測(cè)試(DD)測(cè)量
此試驗(yàn)適用于多層絕緣的診斷。是通過(guò)測(cè)定測(cè)試完成1分鐘后的放電電流值及被測(cè)物的電容值來(lái)判斷多層絕緣物體中的不良情況的好方法。一般建議500V電壓充電30分鐘，測(cè)量其電容及1分鐘后的殘余電流。在設(shè)置測(cè)量模式時(shí)，可自選DD計(jì)算公式。
| DD值判定標(biāo)準(zhǔn) |
＜2.0良好 |
2.0~4.0要注意 |
4.0~7.0不良 |
＞7.0較差 |
銥電測(cè)控專(zhuān)注于ETCR3500、ETCR3520高壓絕緣電阻測(cè)試儀的研發(fā)生產(chǎn)，是5kV高壓絕緣電阻測(cè)試儀，10kV高壓絕緣電阻測(cè)試儀，15kV高壓絕緣電阻測(cè)試儀，絕緣電阻在線測(cè)試儀的生產(chǎn)廠家，銥電測(cè)控服務(wù)熱線：400-006-0068，了解更多請(qǐng)?jiān)L問(wèn)銥電測(cè)控官網(wǎng)：m.kraeuterhaus.com.cn
